X 射线衍射法：通过测量晶体的衍射图谱，分析位错密度和分布，从而计算断裂应力。
电子显微镜法：直接观察位错的形态和分布，测量位错密度，进而推算断裂应力。
拉伸试验法：在拉伸过程中，测量材料的应力-应变曲线，确定断裂应力。
硬度测试法：通过测量材料的硬度，间接评估位错密度和断裂应力。
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中析研究所
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