电子显微镜检测：利用电子显微镜观察微晶粒的形态、大小和分布。
X 射线衍射分析：通过测量 X 射线在晶体中的衍射图案，确定晶体的结构和晶格参数。
扫描电子显微镜检测：可以提供更详细的表面形貌信息。
原子力显微镜检测：用于测量微晶粒的表面形貌和粗糙度。
热分析方法：如差示扫描量热法（DSC）或热重分析（TGA），可研究微晶粒的热性能。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/