磁性测量法：适用于测量磁性基底上的非磁性涂层厚度。
涡流测量法：可用于测量非磁性金属基底上的绝缘涂层厚度。
超声波测量法：能够测量各种基底上的涂层厚度，包括金属、塑料等。
X 射线荧光测量法：常用于测量各种材料表面的涂层厚度。
光学测量法：适用于测量透明或半透明涂层的厚度。
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中析研究所
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