X 射线衍射分析（XRD）：用于确定材料的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察材料的表面形貌和微观结构。
能谱分析（EDS）：用于确定材料中元素的种类和含量。
选区电子衍射（SAED）：用于确定晶体的取向和结构。
电子能量损失谱（EELS）：用于分析材料的电子结构和化学键。
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中析研究所
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