正位错检测是一种常用的金相检测方法，用于分析材料晶体结构中的位置错位情况。以下是一些常见的正位错检测方法：
1. 布拉格反射法：通过X射线衍射技术，测量样品中的晶面间距和倾斜角度，从而确定晶体中的正位错情况。
2. TEM观察法：利用透射电子显微镜(TEM)观察样品中的晶体结构，通过观察晶格畸变、晶面错配等现象，确定正位错的存在。
3. Kossel扩散法：利用X射线或电子束照射样品，通过观察绕射斑图案的形状和位置变化，判断样品中的正位错情况。
4. 透射电子衍射法：使用透射电子衍射仪观察样品中的晶体结构，通过分析衍射斑的形态和强度，确定正位错的位置和类型。
5. X射线顶角方法：利用X射线穿透样品，通过测量X射线的顶角大小和位置，来确定样品中的正位错情况。
