锗粒检测方法：
1. 目测检测：通过肉眼观察锗样品表面是否有明显的锗粒。
2. 显微镜检测：使用显微镜放大锗样品表面，观察是否存在锗粒。该方法可用于检测较小或隐蔽的锗粒。
3. 光学显微镜检测：使用光学显微镜观察锗样品表面的图像，通过分析图像中的颗粒形状、颜色等特征，判断是否存在锗粒。
4. 扫描电子显微镜（SEM）检测：使用SEM对锗样品表面进行扫描，获得高分辨率的锗表面图像。通过观察图像中的颗粒形态、分布等特征来检测锗粒。
5. 化学分析方法：使用化学分析方法对锗样品进行化学性质的分析，通过与标准样品比较，确定是否存在锗粒。
6. 磁力检测：将锗样品放置于磁场中，观察是否有锗粒被磁场吸附，从而判断是否存在锗粒。
