X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来检测位错。
电子显微镜法：利用电子束照射样品，观察位错的形态和分布。
原子力显微镜法：测量样品表面的原子力，从而检测位错。
光学显微镜法：适用于一些较大的位错结构的观察。
红外热成像法：通过检测样品的热分布来间接判断位错情况。
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中析研究所
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