X 射线衍射（XRD）分析：用于确定样品的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）观察：可以提供样品的表面形貌和微观结构信息。
热重分析（TGA）：用于研究样品在加热过程中的质量变化，以评估还原反应的程度。
元素分析：确定样品中各种元素的含量。
X 射线荧光光谱（XRF）分析：用于快速测定样品中的元素组成。
气体分析：检测还原过程中产生的气体成分和含量。
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中析研究所
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