X 射线衍射法：通过分析 X 射线在晶体中的衍射图案来检测位错卷线。
电子显微镜法：利用电子显微镜直接观察材料中的位错卷线。
原子力显微镜法：通过测量原子间的相互作用力来检测位错卷线。
磁力显微镜法：利用磁力显微镜检测材料中的磁性位错卷线。
光学金相法：通过观察材料的金相组织来间接判断位错卷线的存在。
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中析研究所
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