X 射线衍射法：通过测量晶体的衍射图谱来确定晶体结构和成分。
电子显微镜法：利用电子束照射样品，观察其微观结构和形态。
热分析法：通过测量样品在加热或冷却过程中的热效应来分析其物理和化学性质。
光谱分析法：利用物质对光的吸收、发射或散射等特性进行分析。
化学分析法：通过化学反应来确定样品中的化学成分和含量。
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中析研究所
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