X 射线衍射法：用于分析晶体结构和晶格参数。
电子显微镜法：可观察微观结构和晶体缺陷。
光学显微镜法：适用于观察较大尺度的结构。
热分析法：检测材料的热性能和相变。
力学性能测试：如硬度、强度等。
光谱分析法：用于分析元素组成和化学键。
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中析研究所
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