微变形晶体检测-检测方法
X 射线衍射法:通过测量晶体对 X 射线的衍射图案来确定晶体的结构和晶格参数。
电子显微镜法:使用电子显微镜观察晶体的微观结构和缺陷。
光学显微镜法:用于观察晶体的表面形貌和缺陷。
拉曼光谱法:分析晶体的振动模式,提供关于晶体结构和化学成分的信息。
热分析方法:如差示扫描量热法(DSC)和热重分析(TGA),用于研究晶体的热性能和相变。
X 射线荧光光谱法:确定晶体中的元素组成。
红外光谱法:检测晶体中的化学键和官能团。
硬度测试:评估晶体的硬度和耐磨性。
电学性能测试:如电导率测量,用于研究晶体的电学性质。