X 射线衍射分析：用于确定晶体结构和相组成。
拉曼光谱分析：提供有关分子振动和化学键的信息。
扫描电子显微镜（SEM）：观察晶体表面形貌和微观结构。
透射电子显微镜（TEM）：用于高分辨率的晶体结构分析。
X 射线荧光光谱分析：确定元素组成。
热分析：如差热分析（DTA）或热重分析（TGA），研究晶体的热稳定性。
光学显微镜：观察晶体的宏观形态和颜色。
电子背散射衍射（EBSD）：分析晶体的取向和织构。
原子力显微镜（AFM）：研究晶体表面的形貌和粗糙度。
X 射线吸收精细结构谱（XAFS）：提供关于原子周围局部结构的信息。
