外反射谱学检测是一种用于分析物质表面反射特性的技术。它通过测量物质对入射光的反射率来获取有关物质的信息。
该方法适用于检测各种材料，包括金属、半导体、绝缘体等。它可以提供有关物质的化学成分、晶体结构、表面形貌等方面的信息。
外反射谱学检测通常使用分光光度计或光谱仪来进行测量。这些仪器可以测量不同波长的光的反射率，并生成反射光谱。
通过对反射光谱的分析，可以确定物质的特征吸收峰和反射率曲线，从而推断出物质的性质和组成。
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