X 射线检测：利用 X 射线穿透物体，根据不同材料对 X 射线的吸收程度差异，生成透射图像，可检测物体内部的结构和缺陷。
电子显微镜检测：通过电子束穿透样品，形成高分辨率的透射图像，可用于观察纳米级别的微观结构。
红外线检测：利用红外线的穿透能力，检测物体内部的热分布和缺陷。
紫外线检测：通过紫外线的穿透特性，检测物体表面的缺陷和污染物。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/