杂质粒子检测-检测仪器
1. 气质联用仪(GC-MS):该仪器能够通过气相色谱和质谱联合分析,检测样品中的挥发性有机物质。
2. X射线衍射仪(XRD):该仪器利用X射线的衍射现象来分析样品的物相和晶体结构,可以检测样品中的无机杂质。
3. 扫描电子显微镜(SEM):该仪器通过扫描样品表面的电子束来生成样品的表面形貌图像,能够检测样品中的微观杂质。
4. 红外光谱仪(IR):该仪器利用样品吸收、发射、透射红外光的信息来分析样品的物质成分和化学结构,可以检测样品中的有机杂质。
5. 紫外可见分光光度计(UV-Vis):该仪器通过测量样品溶液对紫外或可见光的吸收情况来确定样品的物质成分及浓度,可以检测样品中的无机杂质。
6. 原子吸收光谱仪(AAS):该仪器通过测量样品原子吸收特定波长的光的强度来分析样品中的金属元素含量,可以检测样品中的金属杂质。