系综检测-检测仪器
X 射线衍射仪:用于分析晶体结构和材料的相组成。
扫描电子显微镜:用于观察材料的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜:用于测量材料表面的形貌和力学性质。
拉曼光谱仪:用于分析材料的分子结构和化学键。
傅里叶变换红外光谱仪:用于分析材料的化学组成和官能团。
热重分析仪器:用于测量材料的热稳定性和分解过程。
差示扫描量热仪:用于测量材料的热性能和相变过程。
动态力学分析仪器:用于测量材料的动态力学性能和粘弹性。
电子顺磁共振波谱仪:用于研究材料中的自由基和过渡金属离子。
荧光光谱仪:用于分析材料的荧光性质和发光机制。