X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相鉴定。
扫描电子显微镜：可观察晶体表面形貌和微观结构。
能谱仪：用于分析晶体的元素组成。
热重分析：检测晶体的热稳定性和分解温度。
红外光谱仪：分析晶体的化学键和官能团。
拉曼光谱仪：提供晶体的分子振动信息。
原子力显微镜：用于高分辨率的晶体表面成像。
荧光光谱仪：检测晶体的荧光特性。
比表面积分析仪：测量晶体的比表面积。
X 射线荧光光谱仪：分析晶体中的元素含量。
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中析研究所
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