电子显微镜：可用于直接观察位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：通过分析晶体的衍射图谱，确定位错的类型和密度。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，包括位错的存在。
扫描隧道显微镜：用于研究材料表面的原子结构和缺陷，包括位错。
光学显微镜：在某些情况下，可以用于观察较大尺度的位错现象。
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中析研究所
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