光时域反射仪（OTDR）：可用于检测光纤链路中的微弯损耗，通过测量光信号的反射和散射来确定损耗的位置和程度。
光谱分析仪：用于分析光信号的频谱特性，可检测微弯损耗引起的波长偏移和功率衰减。
光纤显微镜：可直接观察光纤的弯曲情况，帮助确定微弯的位置和程度。
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中析研究所
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