X 射线荧光光谱仪：用于分析微硅粉中的化学成分。
激光粒度分析仪：检测微硅粉的粒度分布。
比表面积分析仪：测量微硅粉的比表面积。
扫描电子显微镜：观察微硅粉的微观结构。
X 射线衍射仪：分析微硅粉的物相组成。
热重分析仪：研究微硅粉的热稳定性。
电感耦合等离子体发射光谱仪：测定微硅粉中的微量元素含量。
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中析研究所
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