X 射线检测仪：可检测物体内部结构和缺陷。
超声波检测仪：用于检测物体的厚度、缺陷和内部结构。
激光扫描仪：可获取物体的三维形状和表面信息。
热成像仪：用于检测物体表面的温度分布。
光谱分析仪：可分析物体的化学成分。
硬度计：用于测量物体的硬度。
粗糙度仪：用于测量物体表面的粗糙度。
电子显微镜：可观察物体的微观结构。
磁力检测仪：用于检测物体的磁性。
色差仪：用于测量物体的颜色差异。
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中析研究所
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