粒度分析仪：用于测量涂敷粉粒的粒径分布。
比表面积分析仪：检测涂敷粉粒的比表面积。
扫描电子显微镜（SEM）：观察涂敷粉粒的表面形貌和颗粒大小。
X 射线衍射仪（XRD）：分析涂敷粉粒的晶体结构。
热重分析仪（TGA）：研究涂敷粉粒的热稳定性和成分分析。
激光粒度仪：快速测量涂敷粉粒的粒度分布。
元素分析仪：确定涂敷粉粒中的元素组成。
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中析研究所
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