X 射线荧光光谱仪：用于分析涂层中的元素组成。
红外光谱仪：可确定涂层中的有机成分。
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察涂层的表面形貌和微观结构。
能谱仪（EDS）：与 SEM 配合使用，可进行元素分析。
热重分析仪（TGA）：分析涂层的热稳定性和成分含量。
气相色谱-质谱联用仪（GC-MS）：用于分析涂层中的有机化合物。
X 射线衍射仪（XRD）：可确定涂层中的晶体结构。
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中析研究所
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