激光粒度仪：用于测量细晶种的粒度分布。
X 射线衍射仪：分析细晶种的晶体结构。
扫描电子显微镜：观察细晶种的表面形貌和微观结构。
热重分析仪：测定细晶种的热稳定性。
比表面积分析仪：测量细晶种的比表面积。
化学分析仪器：检测细晶种的化学成分。
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中析研究所
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