原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）：可以用于检测材料表面的微观结构和形貌，包括细滑移。它通过测量探针与样品表面之间的相互作用力来生成图像。
扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscopy，SEM）：能够提供高分辨率的表面图像，可以观察到细滑移的痕迹和特征。
X 射线衍射仪（X-ray Diffractometer，XRD）：用于分析材料的晶体结构，可以检测到由于细滑移引起的晶体缺陷和应变。
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy，TEM）：可以提供原子级别的分辨率，用于观察材料内部的微观结构和细滑移现象。
电子背散射衍射仪（Electron Backscatter Diffraction，EBSD）：结合了 SEM 和 XRD 的功能，可以分析晶体取向和细滑移的分布。
纳米压痕仪（Nanoindentation）：用于测量材料的硬度和弹性模量，也可以检测到细滑移对材料力学性能的影响。
光学显微镜（Optical Microscopy）：虽然分辨率相对较低，但在一些情况下仍然可以用于观察细滑移的宏观特征。
