激光粒度分析仪：用于测量细粉料的粒度分布。
扫描电子显微镜（SEM）：可以观察细粉料的表面形貌和颗粒大小。
X 射线衍射仪（XRD）：分析细粉料的晶体结构。
比表面积分析仪：测定细粉料的比表面积。
热重分析仪（TGA）：研究细粉料的热稳定性和成分分析。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/