X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和缺陷。
原子力显微镜：可以观察晶体表面的形貌和结构。
扫描电子显微镜：用于观察晶体的微观结构和表面形貌。
透射电子显微镜：能够提供高分辨率的晶体结构信息。
光学显微镜：可用于初步观察晶体的外观和缺陷。
拉曼光谱仪：用于分析晶体的化学键和结构。
红外光谱仪：可检测晶体中的官能团和化学键。
热重分析仪：用于研究晶体的热稳定性和分解过程。
差示扫描量热仪：可分析晶体的相变和热性能。
荧光光谱仪：用于检测晶体中的荧光物质和缺陷。
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中析研究所
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