X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和晶格参数。
电子显微镜：可观察晶体的微观形貌和结构。
拉曼光谱仪：用于研究晶体的分子振动和化学键。
热重分析仪器：检测晶体在加热过程中的质量变化。
差示扫描量热仪：分析晶体的热性能和相变。
原子力显微镜：可测量晶体表面的形貌和力学性质。
傅里叶变换红外光谱仪：用于分析晶体中的官能团和化学键。
荧光光谱仪：研究晶体的荧光特性。
硬度测试仪：测量晶体的硬度。
折射率测试仪：测定晶体的折射率。
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中析研究所
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