X 射线检测仪器：可用于检测头部探测器内部的结构和缺陷。
电子显微镜：能够提供高分辨率的图像，用于观察探测器的微观结构。
频谱分析仪：可用于分析探测器的信号频谱，检测是否存在异常。
示波器：用于测量探测器输出的电信号，观察其波形和特征。
温度计：可用于测量探测器的工作温度，确保其在正常范围内。
磁场测量仪：用于检测探测器周围的磁场强度，以评估其对探测器性能的影响。
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中析研究所
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