1. X射线荧光光谱仪：可用于快速分析材料的成分组成，检测元素的含量。
2. 红外光谱仪：用于快速分析材料的分子结构，检测有机物的存在。
3. 热分析仪：包括差热分析仪、热重分析仪等，可用于分析材料的热性质，包括热分解温度、热稳定性等。
4. 扫描电子显微镜（SEM）：用于观察材料的表面形貌和结构，并可进行微区成分分析。
5. 透射电子显微镜（TEM）：用于观察材料的内部结构和晶体形态，并可进行高分辨率成分分析。
6. X射线衍射仪（XRD）：可用于分析材料的晶体结构、相组成和晶粒尺寸。
7. 磁性测试仪：用于测量材料的磁性质，包括磁化曲线、矫顽力等。
