占有能带检测主要用于材料科学和电子学领域，用于研究半导体材料的能带结构和电子能级分布。
常用的占有能带检测仪器有：
1. 电子能谱仪：可以通过测量材料中的电子能谱，获取电子能带结构和能级分布的信息。
2. 空间电子能谱仪：结合束缚态光电子能谱和散射态光电子能谱，可以获得更详细的空间电子能带结构。
3. 光电子能谱仪：利用光子与材料相互作用时电子的发射行为，获取材料的电子能谱。
4. 能带结构分析仪：结合电子束和晶体表面相互作用，可以测量材料的晶体结构和能带分布。
5. 块面光电子能谱仪：用于研究固体表面的能带结构和电子能级分布。
