远拱点（also known as Far point detection）是指在光学系统中，确定一个物体离光学系统远的边界位置的过程。
常用的仪器有：
1. 远拱点剖面仪（Far point profilometer）：通过测量光束从光学系统出射后的弯曲情况，来确定远拱点的位置。它可以测量不同位置上的弯曲程度，并绘制出远拱点的剖面图。
2. 相差仪（Interferometer）：利用光的干涉现象，通过测量光的相位差来确定远拱点的位置。它可以测量光束经过光学系统后的波前形状和相位差，从而确定远拱点的位置。
3. 自动远拱点检测系统（Automatic Far point detection system）：结合光学系统和图像处理技术，通过分析光学系统出射的图像来确定远拱点的位置。它可以实时监测光学系统的性能，并自动调整参数，以保证系统的稳定性和性能。
