X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相组成。
电感耦合等离子体发射光谱仪：可测定稀土元素的含量。
原子吸收光谱仪：用于检测金属元素，包括稀土元素。
扫描电子显微镜：观察样品的表面形貌和微观结构。
X 射线荧光光谱仪：快速分析元素成分。
紫外-可见分光光度计：可用于检测稀土离子的吸收光谱。
霍尔效应测试仪：测量半导体的电学性质。
拉曼光谱仪：提供关于分子结构和化学键的信息。
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中析研究所
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