超声波检测仪：可检测物体内部的缺陷、结构和材料特性。
X 射线检测仪：用于检测物体的内部结构和缺陷。
磁共振成像仪：可提供物体的详细结构和化学成分信息。
激光干涉仪：用于测量物体的表面形状和变形。
热成像仪：可检测物体的表面温度分布。
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中析研究所
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