光学显微镜：用于观察材料的微观结构和纹理组织。
扫描电子显微镜（SEM）：可以提供高分辨率的表面形貌图像，帮助分析纹理的细节。
X 射线衍射仪（XRD）：用于确定材料的晶体结构和相组成，对纹理组织的分析有一定帮助。
电子背散射衍射仪（EBSD）：能够测量晶体取向和纹理，提供有关材料微观结构的信息。
原子力显微镜（AFM）：可用于研究材料表面的纳米级纹理和形貌。
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中析研究所
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