X 射线衍射仪：通过对材料进行 X 射线衍射分析，确定晶体结构和位错密度。
电子显微镜：包括扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM），可以直接观察位错的形状和分布。
原子力显微镜（AFM）：用于检测材料表面的微观形貌和位错结构。
光学显微镜：在某些情况下，可用于初步观察位错的形态。
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中析研究所
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