元结构检测-检测仪器
1. 光学显微镜:用于观察和分析材料的微观结构和特征。
2. 扫描电子显微镜(SEM):通过扫描材料表面并利用电子与样品相互作用产生的信号来获取材料的表面形貌和微观结构信息。
3. 透射电子显微镜(TEM):通过透射电子束对材料进行高分辨率的成分和组织结构分析。
4. X射线衍射仪(XRD):通过照射材料表面的X射线束来分析材料的结晶结构、晶格参数和相对含量等。
5. 傅里叶变换红外光谱仪(FTIR):用于分析材料的分子结构、化学键类型和功能基团等。
6. 核磁共振仪(NMR):通过观察核自旋在外磁场中翻转发生的原子核共振吸收信号,对材料的结构和组成进行分析。
7. 热重分析仪(TGA):用于分析材料的热稳定性、热分解过程和含水量等。
8. 气相色谱质谱联用仪(GC-MS):结合气相色谱和质谱技术,用于分析材料中的有机物成分和结构。