光学显微镜：用于观察样品的折边情况。
扫描电子显微镜(SEM)：通过扫描束扫描样品表面，获取高分辨率的表面形貌图像，可以用于观察折边的形态和尺寸。
电子探针微区分析仪(EPMA)：利用电子束轰击物质表面，通过分析生成的激发光谱来确定元素组成和分布情况，可以用于分析折边中元素的含量和分布。
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中析研究所
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