扫描电子显微镜（SEM）：用于观察断口的微观形貌和结构，确定晶粒大小和分布。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析断口的晶体结构和相组成，确定晶粒的取向和大小。
电子背散射衍射仪（EBSD）：用于分析断口的晶体取向和晶粒大小，确定晶粒的分布和取向关系。
金相显微镜：用于观察断口的宏观形貌和组织结构，确定晶粒的大小和分布。
硬度计：用于测量断口的硬度，确定晶粒的硬度和强度。
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中析研究所
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