光学显微镜：可用于观察样品表面的微观结构，包括氧化皮的存在和分布情况。
扫描电子显微镜（SEM）：能够提供高分辨率的图像，用于检测氧化皮的形态、厚度和成分。
能谱仪（EDS）：与 SEM 配合使用，可分析氧化皮的元素组成。
X 射线衍射仪（XRD）：用于确定氧化皮的晶体结构和相组成。
硬度计：可以测量氧化皮的硬度，间接评估其厚度和性质。
粗糙度仪：用于测量样品表面的粗糙度，氧化皮的存在可能会影响粗糙度值。
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