X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相组成。
热重分析（TGA）：用于测量物质在加热过程中的质量变化，以确定氧化物的稳定性。
差热分析（DTA）：用于测量物质在加热过程中的温度变化，以确定氧化物的热稳定性。
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察氧化物的表面形貌和微观结构。
能谱分析（EDS）：用于分析氧化物的元素组成。
X 射线光电子能谱（XPS）：用于分析氧化物的表面化学组成和化学状态。
傅里叶变换红外光谱（FTIR）：用于分析氧化物的化学键和官能团。
拉曼光谱：用于分析氧化物的分子结构和振动模式。
比表面积分析仪：用于测量氧化物的比表面积和孔隙结构。
