电子显微镜：用于观察材料的微观结构，包括位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：可分析材料的晶体结构，确定位错的类型和密度。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，有助于检测位错的存在。
扫描隧道显微镜：可用于研究材料表面的原子级结构，包括位错。
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中析研究所
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