显微镜：用于观察和检测物体的微观结构和形态，可检测到微米级别的细节。
X 射线检测仪：利用 X 射线穿透物体的特性，检测物体内部的结构和缺陷，可检测到毫米级别的缺陷。
超声波检测仪：通过发射超声波并接收反射波，检测物体内部的结构和缺陷，可检测到毫米级别的缺陷。
激光扫描仪：利用激光扫描物体表面，获取物体的三维形状和尺寸信息，可检测到微米级别的精度。
三坐标测量仪：通过测量物体表面的点坐标，获取物体的三维形状和尺寸信息，可检测到微米级别的精度。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/