透射衍射线检测是一种用于材料分析的技术，通过测量材料对 X 射线的衍射来获取其晶体结构和微观结构信息。
X 射线衍射图谱分析：确定材料的晶体结构、晶格参数和相组成。
晶体取向分析：研究材料中晶体的取向分布。
微观结构分析：检测材料中的缺陷、位错、晶界等微观结构特征。
物相定量分析：确定材料中各相的含量比例。
应力分析：测量材料中的残余应力。
织构分析：研究材料的织构特征。
相变分析：检测材料在加热或冷却过程中的相变行为。
晶体对称性分析：确定材料的晶体对称性。
晶格常数测量：精确测量材料的晶格常数。
晶粒尺寸测量：评估材料中晶粒的大小。
择优取向分析：研究材料中晶体的择优取向程度。
非晶态分析：检测非晶态材料的结构特征。
多晶材料分析：分析多晶材料的微观结构和性能。
薄膜材料分析：研究薄膜材料的晶体结构和厚度。
纳米材料分析：检测纳米材料的晶体结构和尺寸。
复合材料分析：分析复合材料中各组分的分布和相互作用。
陶瓷材料分析：研究陶瓷材料的晶体结构和性能。
金属材料分析：检测金属材料的晶体结构和微观结构。
聚合物材料分析：分析聚合物材料的结晶度和取向。
半导体材料分析：研究半导体材料的晶体结构和电学性能。
地质材料分析：分析地质材料的矿物组成和结构。
生物材料分析：检测生物材料的晶体结构和生物学性能。
材料老化分析：研究材料在使用过程中的结构变化和性能衰减。
材料合成分析：评估材料合成过程中的晶体结构演变。
材料质量控制：确保材料的晶体结构和性能符合要求。
科学研究：用于材料科学、物理学、化学等领域的研究。
工业应用：在材料制造、加工和质量检测等方面有广泛应用。
