再分结构检测-检测仪器
1. 光学显微镜
光学显微镜是用于观察和分析微观结构的一种常用仪器,它能够放大样品并通过透射或反射光来形成图像。在结构检测中,光学显微镜可以用来观察样品的表面形貌、颗粒分布、晶体结构等。2. 扫描电子显微镜 (SEM)
扫描电子显微镜是一种能够以高分辨率观察样品表面形貌和结构的仪器。它利用电子束和样品之间的相互作用产生图像。SEM广泛应用于金属、陶瓷、复合材料等材料的结构检测中。3. X射线衍射仪
X射线衍射仪是一种用于分析晶体结构的仪器。它利用X射线束通过样品并衍射产生特定的衍射图案,根据衍射图案可以确定样品的晶体结构、结晶度、晶胞参数等信息。4. 原子力显微镜 (AFM)
原子力显微镜是一种能够在原子尺度下观测和测量样品表面形貌和结构的仪器。它利用微机电系统和探针来测量样品表面的力和位移,从而获得高分辨率的图像和结构信息。5. 红外光谱仪
红外光谱仪是一种能够分析和识别物质分子结构的仪器。它通过测量物质对红外辐射的吸收来获取物质的红外光谱图谱,从而确定物质的成分和结构特征。6. 核磁共振仪 (NMR)
核磁共振仪是一种应用核磁共振现象研究物质结构和性质的仪器。它利用磁场和电磁辐射来激发和感应样品中的核自旋,通过测量核自旋的共振频率和强度来获得样品的结构和化学信息。