1. 倾角测量仪：主要用于测量原生结构面的倾角，通过测量仪的传感器获取结构面的倾角数据，可精确测量倾角范围。
2. 耀斑照相机：用于观测原生结构面的形态和构造特征。耀斑照相机通过拍摄原生结构面的反光图像，帮助分析和判定结构面的类型和发育过程。
3. 反射显微镜：利用显微镜的放大功能观察原生结构面的微观特征。通过放大原生结构面的图像，可以分析其组成成分、晶粒形态和晶体结构等。
4. X射线衍射仪：用于分析原生结构面的晶体结构和晶格参数。通过照射原生结构面，测量和分析其衍射图谱，可以推断出结构面的晶体学参数。
5. 高分辨电子显微镜（TEM）：可用于原生结构面的纳米级分析和观察。通过TEM的高分辨率图像，可以研究结构面的微观结构、缺陷和相变等。
