细节距检测-检测仪器
光学显微镜:可用于观察微小物体的形状、结构和表面特征,检测范围通常在微米级别。
扫描电子显微镜(SEM):能够提供高分辨率的表面图像,检测范围可达纳米级别。
原子力显微镜(AFM):可测量物体表面的形貌和力学性质,检测范围在纳米级别。
X 射线衍射仪(XRD):用于分析晶体结构和材料的相组成,检测范围取决于样品和仪器的性能。
激光共聚焦显微镜:可实现高分辨率的三维成像,检测范围在微米到亚微米级别。
扫描隧道显微镜(STM):能够对原子和分子进行成像和操纵,检测范围在纳米级别。