扫描电子显微镜（SEM）：用于观察样品表面形貌和微观结构，可检测锡反常偏析的分布情况。
能谱仪（EDS）：可对样品进行元素分析，确定锡反常偏析区域的元素组成。
电子探针（EPMA）：能够进行微区成分分析，检测锡反常偏析的具体位置和成分。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析样品的晶体结构，可检测锡反常偏析对晶体结构的影响。
原子力显微镜（AFM）：可以提供样品表面的高分辨率形貌图像，有助于研究锡反常偏析的微观结构。
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中析研究所
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