X 射线衍射仪：用于分析矿物的晶体结构和成分。
电子探针：可以对样品进行微区成分分析。
扫描电子显微镜：用于观察样品的表面形貌和微观结构。
原子吸收光谱仪：用于检测样品中的金属元素含量。
电感耦合等离子体发射光谱仪：可同时测定多种元素的含量。
X 射线荧光光谱仪：快速分析样品中的元素成分。
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中析研究所
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